OMI-UL(高性能オフライン検査装置)
枚葉式フィルムに対し、1μ～超高分解能での検査が可能なラインセンサカメラ式高精度表面欠陥検査装置です。
レーザー顕微鏡（オプション）の3D計測による欠点解析にも対応しており、生産抜き取り検査や先端素材の研究試作品の検査などにもご活用いただけます。
社内にも常設している為、受託検査の御依頼も承っております。
製品情報
| 製品分類 | 画像処理機器 | ||
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| カタログ | 無 | ||
| カタログ名 | |||
| カタログファイル | |||
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