アクティブデバイスを含む(半導体レーザ・SOA）光回路（PIC)設計を行うソフトウェア
PICWAVEはフォトニック集積回路（PIC）設計ツールです。
高度なレーザーダイオードとSOAモデル、強力なフォトニック集積回路（PIC）の設計およびシミュレーションツールとして柔軟な設計フロー環境を提供します。
レーザーダイオードとフォトニック集積回路の設計機能の組み合わせにより、任意のレーザーダイオードの形状をパッシブコンポーネントとアクティブコンポーネントの両方を含むフォトニック回路として計算することが出来ます。
Photon design社のパートナーが提供するデザインキットを使用しデザインフローツールとしてPICの設計を行うことも可能で、回路を組み立てた後、製造のために生産工場に提出する前に、PICWaveで回路全体をシミュレートすることが出来ます。
‣ Active Module：
様々タイプの増幅器（SOA）とレーザー、および変調器と光検出器のシミュレーションを可能にする詳細な物理モデルを提供しファブリペロー、DFB、調整可能レーザー、リングレーザーなど、さまざまな種類のレーザーダイオードも計算できます。
‣ Electrical model
ダイオードIV特性、電流拡散、進行波（マイクロストリップ）効果、抵抗、インダクタ、コンデンサで構成される外部電気回路などアクティブなフォトニックコンポーネントの電気的側面を正確にモデル化するための機能を備えています。
‣ Laser Geometries
洗練されたSOAモデルと一般的な光回路機能によって、調整可能なレーザーや外部キャビティデバイスを含む、考えられるほぼすべての半導体レーザーの形状をモデル化することが出来ます。
‣ Analysis
- 光学スペクトル（光学位相を含む複雑な光学振幅のスペクトル） - 時間平均および時間発展-
- 強度スペクトル（光学強度のスペクトル） - 時間平均および時間発展 -
- RIN (Relative Intensity Noise: 相対強度雑音)
- 振幅変調 AM（Amplitude Modulation） / 周波数変調 FM (Frequency Modulation)
- アイ・ダイアグラム
- 閾値と微分効率測定を使用したLI曲線
- 群遅延と群速度分散スペクトル
- 縦/横方向のプロファイル（電流の広がり、キャリア密度、光パワー、電流分布）
製品情報
| 製品分類 | 計測・解析用機器 | ||
|---|---|---|---|
| カタログ | 有 | ||
| カタログ名 | |||
| カタログファイル | |||