マシンビジョン、画像処理の製品検索ポータルサイト「画像機器総覧」は、産業用、工業用カメラなど、画像処理に関連する製品情報を紹介しております。

GEEは、光学解析と光散乱測定をコア技術とし、SPEOS・LightTools・ZEMAXに対応したBSDF測定、体積散乱測定、レイファイル生成、光学受託解析を提供しています。あらゆる光の挙動を可視化・数値化し、製品設計や品質改善を支援してきました。今回の画像センシング展では、特別展示として、可視光＋SWIRカメラによる物質の“指紋”可視化デモを実施。特に「水分」「錆び」「色度分析」に焦点を当てた解析をその場でご体感いただけます。光を通じた“見えないものの見える化”の革新を、ぜひブースでご覧ください。