SEMやAFMの代替品に。ナノスケール構造を非破壊・フルカラーで観察
LIG Nanowise社のミクロスフィアレンズ（微小球体レンズ）により、NANORO Mは色情報を維持したまま、回折限界を超えて結像することができます。半導体研究開発および先端材料イメージングにも適応可能です。レンズのみの販売にも対応しています。
製品情報
| 製品分類 | 計測・解析用機器 | ||
|---|---|---|---|
| カタログ | 無 | ||
| カタログ名 | |||
| カタログファイル | |||
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