干渉計を辿る 著:市原 裕アドコム・メディア株式会社

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先端光学技術を支える多様な干渉計測

本書は,O plus E2015年11月号から2020年1・2月号まで連載したものを単行本としてまとめたものである。ニコンで40年にわたり干渉を利用した各種の計測器(干渉計)の開発を行うなか,著者が身に着けた,教科書には書かれていない経験やノウハウを本書でまとめている。現場の息吹が,生きた学問が感じられる,干渉を利用する光学技術者への贈り物である。

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アドコム・メディア株式会社 OplusE編集部

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