カタログ付き製品一覧　計測・解析用機器

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製品カテゴリー（カタログ掲載製品）

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計測・解析用機器

フォトテクニカ(株)	小型マルチユース積分球　AvaSphere
フォトテクニカ(株)	近赤外分光光度計（音響光学可変波長フィルター）OptScan-C
(株)ミューテック	計測ライン発生器 MSI-330
(株)ミューテック	クロスライン発生器 MSI-300
(株)日本クラビス	スイス・MESA　Imaging　AG社製　TOF方式3次元距離測定カメラ　スイスレンジャー「SR‐4000」
(株)オプセル	NEW顕微レーザオートコリメータ　LC65M050‐M2（WD20mm）　2視野レーザオートコリメータ　LC65W050‐M2（WD500mm） LC65W030‐M1（WD2500mm）
(株)オプセル	レーザー走査ユニット　（テレセントリックfθレンズ搭載）　LSU‐25030（405nm仕様）NEW　LSU‐6015R（650nm，780nm仕様）　LSU‐6015（405nm仕様）　LSU‐1002（405nm高解像仕様)
(株)オプセル	超広視野　共焦点レーザ走査イメージャ　LSM‐4000V（405nmレーザ仕様）　New　LSM‐6500V（650nmレーザ仕様）
NEC Avio赤外線テクノロジー(株)	赤外線サーモグラフィ装置　スーパーファインサーモ　TVS‐8500
NEC Avio赤外線テクノロジー(株)	赤外線サーモグラフィ装置　アドバンストサーモ　TVS‐500EXZ
NEC Avio赤外線テクノロジー(株)	高画質ハンディサーモグラフィTH7800N　Fusion
NEC Avio赤外線テクノロジー(株)	赤外線サーモグラフィ装置　サーモトレーサ　TH9260
NEC Avio赤外線テクノロジー(株)	熱画像監視カメラ　TS9100
NEC Avio赤外線テクノロジー(株)	データアクイジション装置　DL2800
NEC Avio赤外線テクノロジー(株)	高画質ハンディサーモグラフィ　TH7800N
シグマ(株)	レーザー傷検査装置
シナノケンシ(株)	高速ビジュアルデータロガー「PLEXLOGGER」
計測エンジニアリングシステム(株)	オールインワンデジタルマイクロスコープ T-view
穂高電子(株)	コンパクト　デジタルマイクロスコープ　FocusStuido　FS1400
オプテックス・エフエー(株)	モニタリングセンサ（ＭＤＦシリーズ）
JFEテクノリサーチ(株)	高速ライン分光測定機 FSA-800/1000
JFEテクノリサーチ(株)	内視鏡用平面分光測定機 ESA-800/1000
JFEテクノリサーチ(株)	面歪パタン測定装置　*SurfTRiDY* （サーフトライディ）
壺坂電機(株)	KK-2T
(株)テックサイエンス	次世代型触針式段差・表面形状測定装置 XP-Plusシリーズ
JFEテクノリサーチ(株)	近赤外線用　イメージング分光解析装置　SWIR‐2400
JFEテクノリサーチ(株)	ランドスケープ分光測定機　PSALM‐700/1000
JFEテクノリサーチ(株)	顕微鏡用平面分光測定機　PSAM‐700/1000
JFEテクノリサーチ(株)	平面分光測定機　PSA‐700/1000
JFEテクノリサーチ(株)	イメージング分光器　ImSpector
オプトウエア(株)	レーザー応用計測の受託開発
(株)アルゴル	Million画像処理応用器　3次元形状検査機
朝日分光(株)	LED配光測定装置　IMS5000‐LED
竹中システム機器(株)	クリーンルーム内のダスト微粒子発生源探索に役立つ移動型ダスト微粒子可視化装置

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